Консорциум iNEMI проводит опрос, касающийся внедрения периферийного сканирования

Херндон, Вирджиния, США

Международный консорциум iNEMI (International Electronics Manufacturing Initiative) занимается опросом электронной отрасли с целью оценить текущую скорость внедрения периферийного сканирования и определить препятствия для его широкого использования. Ведущий промышленный консорциум запустил программу интерактивного опроса, который охватывает различные области применения периферийного сканирования и рассчитан на участие как можно большего числа специалистов из общемировой цепочки поставок.

«Мы хотим услышать об опыте применения периферийного сканирования, – сказал Стив Буткович (Steve Butkovich), менеджер отдела испытаний конструкции компании Cisco и сопредседатель Проекта Консорциума iNEMI по внедрению периферийного сканирования (iNEMI Boundary Scan Adoption Project). – Мы ищем отклика от людей, которые могли бы использовать периферийное сканирование – разработчиков печатных плат, специалистов по тестированию, технических руководителей или консультантов по вопросом проектирования изделий с учетом тестопригодности, а также разработчиков интегральных схем, которые могли бы интегрировать периферийное сканирование в свои изделия. Если они применяют периферийное сканирование, мы хотим знать, насколько хорошо оно работает – или не работает; а если они его не используют, мы хотели бы узнать, почему именно. Эта информация поможет нам улучшить реализацию тестирования и расширить охват электронной продукции, что даст преимущества всей цепочке поставок».

Начиная с конца февраля, опрос Консорциума iNEMI будет доступен по адресу www.inemi.orgboundary_scan_survey.

Опросный лист разделен на две части – одна для пользователей (для заполнения которой требуется около 20 минут), а другая – для разработчиков ИС (около 10 минут). Будут опубликованы только обобщенные данные опроса, кроме того, участники имеют возможность отвечать анонимно.

Проект Консорциума iNEMI по внедрению периферийного сканирования создан для способствования более широкому внедрению периферийного сканирования (JTAGIEEE 1149.x, P1581) в электронной промышленности, побуждения производителей полупроводниковых компонентов включать данную технологию в свою продукцию и содействия производителям автоматизированного тестового оборудования в разработке инструментов, которые бы поддерживали тестирование сборок с применением периферийного сканирования. Данный опрос является первым важным шагом в данном направлении.

Информация с сайта www.inemi.org.