Разделы
Полезные сайты
Счетчики
Межрегиональный семинар по применению технологии периферийного сканирования для разработки электронных средств
Фотографии предоставлены компанией JTAG Technologies
Межфакультетский научно-образовательный центр «CALS в электронике» (НОЦ CALS-E) ВлГУ (Владимирский Государственный Университет), компания JTAG Technologies (Представительство в г. Санкт-Петербург) и ЗАО Предприятие Остек (г. Москва) провели 28 ноября 2008 г. на базе кафедры «Конструирование и технология радиоэлектронных средств» научно-практический семинар «Периферийное сканирование – принципы и реализация», в работе которого приняли участие 49 представителей регионального радиоэлектронного кластера из Владимира, Мурома, Коврова, Юрьев-Польского, а также сотрудники нескольких московских предприятий. На семинаре были заслушаны доклады Андрея Насонова (нач. отдела измерений ЗАО Предприятие Остек) и Алексея Иванова (Технический консультант фирмы JTAG Technologies).
Технология JTAG (Boundary Scan), поддерживаемая международным стандартом IEEE 1149.1, как известно, предполагает использование в составе элек-тронных средств интегральных микросхем, содержащих тестовую логику JTAG, которые существенно облегчают процесс разработки, отладки, тестирования и программирования сложных электронных устройств.
Эта технология успешно применяется рядом кафедр ВлГУ, но предприятиям региона она в силу различных причин малоизвестна.
На семинаре были подробно рассмотрены принципы работы технологии периферийного (граничного) сканирования. Участники семинара ознакомились с возможностями тестирования плат и систем при помощи JTAG-интерфейса, начиная от процесса автоматического и ручного создания тестов и приложений и закан-чивая диагностикой дефектов.
Вызвала интерес практическая демонстрация А. Ивановым реализации технологии периферийного сканирования на экспериментальной плате с использова-нием программных сред JTAG ProVision и JTAG Visualizer. Наглядно продемонстрирован полный цикл DFT (Design-For-Testability) проектирования, включая тестирование и диагностику неисправностей.
Сообщение подготовил В. П. Крылов, зав. каф. КТ РЭС ВлГУ.
Информация предоставлена компанией JTAG Technologies.