Компания SPEA на выставке Electronica 2008 в Мюнхене

Приемлемая цена, высокая производительность, отличные технологические показатели: на этих положениях построила компания SPEA свое участие в мюнхенской выставке Electronica 2008, где были представлены многорежимная система электрического контроля электронных модулей на печатных платах с “летающими тестовыми пробниками” SPEA 4040, а также система электрического контроля электронных модулей на печатных платах SPEA 3030, целью разработки которых было предложить лучшее соотношение цена/производительность для тестирования продукции.

Посетители стенда компании SPEA по достоинству оценили высокие технологические показатели многорежимной системы 4040, а также гибкость и широкий спектр моделей серии 3030.

Быстрая и прецизионная многорежимная система 4040 является эталонной системой для рынка оборудования с летающими тестовыми пробниками, благодаря своей исключительной производительности, точности и тестовому покрытию. Очень высокая производительность системы позволяет также адаптировать ее к проведению тестирования продукции в условиях больших объемов производства, а благодаря высокой механической точности она в состоянии контактировать непосредственно с компонентами типоразмера 01005 и компонентами со сверхмалым шагом выводов. Используя 6 пробников (4 с верхней и 2 – с нижней стороны платы) система может осуществлять одновременный контакт с обеими сторонами платы и, таким образом, представляет собой наиболее удобное решение в случае, когда не все компоненты доступны с участием исключительно одной стороны модуля. Применение пробников с двух сторон сокращает количество перемещений, необходимое для выполнения тестовой программы: так как время тестирования главным образом зависит от времени перемещения пробника, оно значительно сокращается.

Когда для проведения тестирования необходимо контактировать с обеими сторонами модуля, двустороннее расположение пробников позволяет системе тестировать модуль в целом с применением одной и той же программы тестирования, без необходимости управлять различными программами для двух сторон платы, одновременно устраняя время манипулирования сборкой, которое в противном случае необходимо затратить на ее переворот.

Системы внутрисхемного тестирования электронных модулей 3030 разработаны для применения при различных требованиях к процессу тестирования: от необходимости иметь простую в использовании и недорогую установку внутрисхемного тестирования до многофункциональной и высокопроизводительной системы. Гибкость достигается благодаря разнообразию доступных моделей и устройств приема плат, а также открытой и модульной архитектуре системы: возможно выбрать установку, наиболее подходящую для производственных требований, а затем модифицировать и расширять ее конфигурацию в любой момент для достижения новых требований по тестированию.
На выставке Electronica компания SPEA представила модель 3030 Compact, которая представляет собой идеальную систему начального уровня. Она была продемонстрирована в двух конфигурациях, с двумя из девяти различных устройств приема плат: с выдвижным приспособлением и с универсальным интерфейсным разъёмом.

Как многорежимная система 4040, так и системы серии 3030 разработаны с целью обеспечения самого высокого уровня гибкости, благодаря своей модульности и расширяемости.

Каждая система может быть оборудована оснасткой для проведения внутрисхемного тестирования (с подключением источника питания или без него), а также функционального тестирования, программирования интегральных микросхем на плате, автоматической оптической инспекции, периферийного сканирования, функционального тестирования с подключением источника питания, динамического цифрового тестирования, группового тестирования и теста обрывов. Таким образом, эти системы, которые остаются масштабируемыми и расширяемыми также и после приобретения, могут удовлетворять различным требованиям в области проведения тестирования.

Информация предоставлена ЗАО Предприятие Остек.