Компания «Совтест АТЕ» провела второй в этом году семинар по микроэлектронике

Фото с сайта www.sovtest.ru

На семинаре присутствовали представители более 20-ти ведущих предприятий электронной промышленности России и стран СНГ.

Благодаря тому, что семинар проходил непосредственно на территории института, помимо теоретических докладов была возможность продемонстрировать участникам семинара и установленное в институте оборудование.

В ходе семинара специалистами ООО «Совтест АТЕ» были раскрыты темы методов монтажа и тестирования изделий микроэлектроники, а также расходных материалов, применяемых в данной сфере. Зав. кафедрой «Микроэлектроника» Московского Государственного Института Электронной Техники, д.т.н., профессор Тимошенков С.П. представил небольшой доклад на тему: «Развитие МЭМС технологий в МИЭТ. Возможности проектирования и производства».

Также с презентациями на семинаре выступили и представители зарубежных партнеров ООО «Совтест АТЕ». Keith Bryant из фирмы Dage (Великобритания) поведал слушателям о последних разработках в области X-Ray инспекции, а Ralf Jaeckel из фирмы Multitest (Германия) рассказал о методах тестирования микроэлектромеханических систем (МЭМС).

Особенно стоит отметить выступление на семинаре представителя института Fraunhofer IZM (Германия), ведущей исследовательской организации, занимающейся разработками и производством в области микроэлектроники и нанотехнологий. Микаэль Файль (Michael Feil) рассказал как о самом институте, направлениях его работы, так и подробно описал технологию RFID в производстве ультратонких ИС и полимерных транзисторов (данное направление исследований является профилирующим для отделения IZM). В рамках семинара между представителями ООО «Совтест АТЕ», института Fraunhofer IZM и проректором по научной и инновационной деятельности Московского Государственного Института Электронной Техники, д.т.н. Беспаловым В.А., были проведены переговоры о перспективах дальнейшего сотрудничества.

Информация с сайта www.sovtest.ru.