Технология микроомных измерений: простой путь к сложному

Фото с сайта www.sovtest.ru

На сегодняшний день технология микроомных измерений (электрический контроль качества металлизации переходных отверстий на печатных платах) является неотъемлемым звеном в производственной цепочке производителей, стремящихся к более сложным, но при этом качественным изделиям. Особенно это касается производителей военной и спецтехники.

В настоящее время эту уникальную технологию в России предлагает только одна компания - «Совтест АТЕ», с 2001 года являющаяся официальным дистрибьютором фирмы MicroCraft (Япония), разработчика технологии. Семь машин из общего числа установленного в России оборудования фирмы MicroCraft имеют встроенную функцию микроомных измерений. Отсутствие конкуренции в данном секторе обусловлено, прежде всего наукоемкостью данной технологии.

На днях офис ООО «Совтест АТЕ» в Курске посетил президент фирмы MicroCraft господин Yorio Hidehira. Он поблагодарил руководство и сотрудников «Совтест АТЕ» за отличную работу и отметил, что компания отвечает всем требованиям, предъявляемым фирмой MicroCraft к своим дистрибьюторам, а по некоторым показателям даже опережает своих коллег из других стран. Так, например, по количеству продаж среди европейских дистрибьюторов ООО «Совтест АТЕ» занимает второе место после Великобритании.

Также во время одной из презентаций была представлена новейшая тестовая система TDR4033, совмещающая функции низкоомных измерений и технологию TDR для контроля высокочастотных плат с контролируемым импедансом.

Система TDR4033 кроме измерения сопротивлений дорожек и металлизации отверстий позволяет в автоматическом режиме с помощью подвижных пробников проверить волновое сопротивление каждой цепи на плате. В системе используется рефлектометрический метод (Time Domain Reflectometry, TDR) измерения коэффициента отражения импульсов с малым временем нарастания, что позволяет получить распределение волнового сопротивления проводника по всей его длине.

Кроме производителей печатных плат данное оборудование применяется производителями микроэлектроники (например, Intetl, AMD) для контроля комплексного импеданса корпусов микросхем, микроплат и т.д.

Информация с сайта www.sovtest.ru.