Новый сайт компании «Совтест АТЕ», посвященный микроэлектронике

Изображение с сайта www.sovtest.ru
 

С 1 июня 2008 года начнет свою работу отдельный сайт «Совтест АТЕ», посвященный оборудованию для микроэлектроники, предлагаемому компанией. Адрес будущего сайта в Интернете http://www.micro.sovtest.ru

Направление «Оборудование для микроэлектроники» появилось в «Совтест АТЕ» сравнительно недавно, в начале 2007 года, но даже за такой короткий срок компания смогла накопить достаточный опыт. По заявлению компании, она в силе предложить самый широкий спектр оборудования в данной области (более 200 поставщиков). Компания имеет микроэлектронное изделие собственной разработки - Switch-карту для тестеров кабелей. Под производство на предприятии была обустроена специализированная чистая комната, которая одновременно служит и для демонстрации оборудования Заказчикам. С официального разрешения авторов компания переиздает техническую литературу по микроэлектронике на русском языке, в частности, в 2007 году было издано практическое руководство по использованию X-Ray инспекции в производстве радиоэлектронных изделий. А не так давно вышел в свет сигнальный экземпляр учебного пособия по технологии FlipChip (книга планируется к выпуску к концу этого лета).

Такое активное развитие данного направления в компании и послужило причиной создания отдельного сайта.

На сайте будет представлено оборудование и материалы по 4-м основным направлениям использования при производстве микроэлектроники:

• тестовое оборудование
• технологическое оборудование
• испытательное оборудование
• расходные материалы

Помимо стандартных разделов таких, как «О компании», «Каталог», «Новости и события» и др. ценным источником информации для специалистов станет раздел «Технологии», в котором будет представлено подробное описание современных технологий в производстве микроэлектроники: ChipOnBoard, Flip Chip, Наноимпринтлитография. Также здесь будут выложены все статьи по микроэлектронике, написанные сотрудниками компании, и дано толкование основных терминов, наиболее часто используемых при описании оборудования и технологий в микроэлектронике.

По информации с сайта www.sovtest.ru