ООО «Совтест АТЕ» примет участие во всероссийской научно-технической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой»

Фото с сайта www.sovtest.ru

24 – 26 марта 2010 г. на предприятии ОАО «РНИИ «Электронстандарт» в г. Санкт-Петербурге будет проходить всероссийская научно-техническая конференция «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой».

Конференция будет посвящена проблемам комплектации высоконадежной аппаратуры электронной компонентной базы отечественного и иностранного производства, методологии выбора ЭКБ ОП и ИП для особонадежной аппаратуры, оптимизации сертификационных испытаний ЭКБ ИП и многим другим темам.

В конференции примут участие представители из различных регионов России. Среди докладчиков конференции также будет представлена компания Совтест АТЕ. В конференции примут участие директор по качеству Беседин Валерий Николаевич, с докладом «Элементы современной ЭКБ – микроэлектромеханические системы (МЭМС). Перспективы применения МЭМС в оборонной и аэрокосмической промышленности. Международная кооперация в области испытаний и сертификации» и технический директор Приходько Игорь Анатольевич, с докладом «Элементы современной ЭКБ – микроэлектромеханические системы (МЭМС). Методы тестирования».

Информация с сайта www.sovtest.ru.