В офисе компании ООО «Совтетст АТЕ» прошел семинар на тему «Новые возможности внутрисхемных тестеров с подвижными пробниками Seica»

Фото с сайта www.sovtest.ru

7 июля 2009 года в офисе компании ООО «Совтест АТЕ» прошел практический семинар на тему «Новые возможности внутрисхемных тестеров с подвижными пробниками Seica».

Цель семинара – обмен опытом между заказчиками и повышение эффективности использования тестеров с подвижными пробниками Seica.

На семинаре были освещены следующие темы:

1. Линейка тестеров с подвижными пробниками фирмы Seica.
2. Была раскрыта тема новых опций для тесторов Seica.
3. Селективная лазерная пайка FireFly фирмы Seica.
4. Использование ремонтной станции для отслеживания дефектов.
5. Сервис.

В рамках семинара была проведена демонстрация оборудования: внутрисхемный тестер с подвижными пробниками Pilot VIP, ПО «Программная станция», ПО «Ремонтная станция». В семинаре принимали участие Заказчики, которые уже эксплуатируют данное оборудование.

Информация с сайта www.sovtest.ru.